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FJ1200環(huán)境級x γ輻射測量儀
  • 產(chǎn)品型號:
  • 更新時間:2024-07-16
簡要描述:

FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器,具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便,易于操作

產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介

FJ1200環(huán)境級X、γ輻射測量儀主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準確快速測量,儀器采用NaI晶體作為探測器,具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便,易于操作。本儀表可用于環(huán)保部門檢測環(huán)境本底情況,醫(yī)院人員監(jiān)測射線醫(yī)療設備附近本底,無損檢驗即射線探傷裝置是否有輻射泄漏,核電站附近居民區(qū)環(huán)境本底測量,農(nóng)業(yè)部門的輻照育種設備是否有輻射泄漏。適用人群和機構(gòu)有:環(huán)境監(jiān)測機構(gòu),醫(yī)院輻射醫(yī)療設備操作管理人員,射線探傷裝置的操作和管理人員,經(jīng)常需要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。 

 

技術(shù)指標

輻射類型:Xγ 

探測器:Φ50 × 40 mm,NaITl)晶體 

測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h 

測量精度:± 10%100 µSv/h,137Cs) 

能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV 

響應時間:< 3 s 

工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 

機械尺寸:主機:寬141 mm × 111 mm × 38 mm 

探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) 

 

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